کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1498188 | 1510894 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Accurate electron channeling contrast analysis of a low angle sub-grain boundary
ترجمه فارسی عنوان
دقیق تحلیل کانال کنتراست مرز زیر زاویه کم
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
چکیده انگلیسی
High resolution selected area channeling pattern (HR-SACP) assisted accurate electron channeling contrast imaging (A-ECCI) was used to unambiguously characterize the structure of a low angle grain boundary in an interstitial-free-steel. The boundary dislocations were characterized using TEM-style contrast analysis. The boundary was determined to be tilt in nature with a misorientation angle of 0.13° consistent with the HR-SACP measurements. The results were verified using high accuracy electron backscatter diffraction (EBSD), confirming the approach as a discriminating tool for assessing low angle boundaries.
Figure optionsDownload high-quality image (317 K)Download as PowerPoint slide
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 109, December 2015, Pages 76–79
Journal: Scripta Materialia - Volume 109, December 2015, Pages 76–79
نویسندگان
H. Mansour, M.A. Crimp, N. Gey, N. Maloufi,