کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1498459 | 1510911 | 2014 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Mechanical twinning and detwinning in pure Ti during loading and unloading – An in situ high-energy X-ray diffraction microscopy study
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Far-field high-energy X-ray diffraction microscopy (HEDM) was used to study {1 0 1‾ 2}〈1‾ 0 1 1〉 twinning in Ti. Twin nucleation within a bulk parent grain is observed at a resolved shear stress (RSS) of 225 MPa. During unloading, the RSS on the twin plane reversed sign, providing a driving force for detwinning. Formation of the twin, however, prevented the parent grain from returning to its original stress state even after complete unloading. The twin morphology and surrounding environment were examined using near-field HEDM.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 92, 1 December 2014, Pages 35–38
Journal: Scripta Materialia - Volume 92, 1 December 2014, Pages 35–38
نویسندگان
L. Wang, J. Lind, H. Phukan, P. Kenesei, J.-S. Park, R.M. Suter, A.J. Beaudoin, T.R. Bieler,