کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1498502 1510928 2014 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Epitaxial growth of single-crystalline silicon–germanium on silicon by aluminium-assisted crystallization
ترجمه فارسی عنوان
رشد اپیتاشیال سیلیکون ژرمانیوم تک کریستالی بر روی سیلیکون با بلورسازی با کمک آلومینیوم
کلمات کلیدی
بلورسازی با کمک آلومینیوم، پرتقال، رشد اپیتاشیا، آلیاژها، فیلم های نازک
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
چکیده انگلیسی

Aluminium-assisted crystallization is used to grow single-crystalline SixGe1−x film epitaxially on Si substrate at a relatively low temperature (350–450 °C). Investigation of the mechanism by which Al film causes epitaxial growth of SixGe1−x suggests a four-step growth process is involved. The composition of the SixGe1−x film can be controlled by the annealing conditions. This SixGe1−x film can be used as a buffer layer for the epitaxial growth of Ge on Si or as a virtual substrate for the fabrication of III–V devices.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 71, 15 January 2014, Pages 25–28
نویسندگان
, , , , ,