کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1499793 | 993321 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Understanding the relationship between atomic-scale structure and properties is becoming increasingly critical as microstructures are now tailored at the nanometre length scale. Here we demonstrate 3-D mapping of grain orientations through atom probe tomography by utilizing Hough transforms to extract the orientation of crystallographic directions. The disorientation across boundaries is also determined. We are now able to combine the powerful capability of atom probe for measuring the 3-D distribution of atoms with the new ability to provide accurate crystallographic information.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 66, Issue 11, June 2012, Pages 907–910
Journal: Scripta Materialia - Volume 66, Issue 11, June 2012, Pages 907–910
نویسندگان
Vicente J. Araullo-Peters, Baptiste Gault, Sachin L. Shrestha, Lan Yao, Michael P. Moody, Simon P. Ringer, Julie M. Cairney,