کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1500302 | 993342 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Estimates of interfacial properties in Cu/Ni multilayer thin films using hardness data
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Modeling the defect structure and mechanical properties of metallic multilayer thin films requires estimates of dislocation parameters such as interfacial line energy and barrier strength, as well as resistance to confined layer slip. A method is presented to estimate these parameters using experimental measurements of hardness vs. individual layer thickness h. Application to Cu/Ni multilayers suggests that the interfacial line energy increases dramatically with h (5 ⩽ h ⩽ 50 nm), far in excess of values assumed in analytic and dislocation dynamics models.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 62, Issue 6, March 2010, Pages 325–328
Journal: Scripta Materialia - Volume 62, Issue 6, March 2010, Pages 325–328
نویسندگان
P.M. Anderson, J.S. Carpenter,