کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1501016 | 993367 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Domain wall in (FeCo)–Zr–O thin film profiled by spin-polarized scanning tunneling microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The domain structure of (FeCo)–Zr–O thin film was observed with spin-polarized scanning tunneling microscopy. A maze domain is characterized by a domain width of about 320 nm, and a wall energy of 4.97 erg cm−2. The tunneling magnetoresistance (TMR) profile is fitted by a tanh function, and a wall thickness of about 100 nm is obtained. This indicates that the TMR is proportional to the angle between the tip and the film magnetizations. Effective exchange and anisotropy constants are estimated at 3.88 × 10−6 erg cm−1 and 3.98 × 105 erg cm−3, respectively.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 59, Issue 5, September 2008, Pages 574–577
Journal: Scripta Materialia - Volume 59, Issue 5, September 2008, Pages 574–577
نویسندگان
Youhui Gao, Daisuke Shindo, Shigehiro Ohnuma, Hiroyasu Fujimori,