کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1501133 | 993372 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging ultrafine grains in machined tantalum subsurface using a focused ion beam
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Imaging ultrafine grains in machined tantalum subsurface using a focused ion beam Imaging ultrafine grains in machined tantalum subsurface using a focused ion beam](/preview/png/1501133.png)
چکیده انگلیسی
In this study we have identified ultrafine grains in the subsurface of a machined tantalum surface. It has been shown that precision sectioning using focused ion beam milling and imaging using ion-induced secondary electrons are capable of resolving ultrafine grains of the order of 150–200 nm. A good correlation has been found between X-ray full-width-at-half-maximum data and the microstructural variation as a function of depth.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 59, Issue 3, August 2008, Pages 301–304
Journal: Scripta Materialia - Volume 59, Issue 3, August 2008, Pages 301–304
نویسندگان
J. Sarkar, P.S. Gilman,