کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1501198 | 993374 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Three-dimensional atom probe investigations of Ti–Al–N thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Three-dimensional atom probe investigations of Ti–Al–N thin films Three-dimensional atom probe investigations of Ti–Al–N thin films](/preview/png/1501198.png)
چکیده انگلیسی
Elemental processes underlying the temperature-initiated decomposition of low-conductive Ti–Al–N thin films is investigated on an atomic-scale by laser-assisted three-dimensional atom probe tomography. This allows three-dimensional observation of spinodal decomposition in Ti–Al–N. Experimental evidence is presented for the formation of an interconnected network of Ti- and Al-rich domains and the subsequent phase transformation under increased thermal load to a dual phase structure of TiN and AlN areas.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 61, Issue 7, October 2009, Pages 725–728
Journal: Scripta Materialia - Volume 61, Issue 7, October 2009, Pages 725–728
نویسندگان
R. Rachbauer, E. Stergar, S. Massl, M. Moser, P.H. Mayrhofer,