کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1501198 993374 2009 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Three-dimensional atom probe investigations of Ti–Al–N thin films
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Three-dimensional atom probe investigations of Ti–Al–N thin films
چکیده انگلیسی

Elemental processes underlying the temperature-initiated decomposition of low-conductive Ti–Al–N thin films is investigated on an atomic-scale by laser-assisted three-dimensional atom probe tomography. This allows three-dimensional observation of spinodal decomposition in Ti–Al–N. Experimental evidence is presented for the formation of an interconnected network of Ti- and Al-rich domains and the subsequent phase transformation under increased thermal load to a dual phase structure of TiN and AlN areas.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 61, Issue 7, October 2009, Pages 725–728
نویسندگان
, , , , ,