کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1501761 | 993394 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Improving the spatial resolution of a magnetic force microscope tip via focused ion beam modification and magnetic film coating
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
To fabricate high-resolution magnetic tips by a more convenient method, this study applied focused ion beam milling and magnetic film coating techniques to manufacture high aspect ratio (HAR) magnetic force microscope (MFM) tips. The results showed that a HAR MFM tip with a ratio of 10:1 was successfully fabricated. MFM measurements demonstrated that this probe provided clear high-resolution MFM images. The ultimate lateral resolution of the HAR MFM tip was reduced to a minimum of 20 nm.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 56, Issue 5, March 2007, Pages 365–368
Journal: Scripta Materialia - Volume 56, Issue 5, March 2007, Pages 365–368
نویسندگان
H.S. Huang, M.W. Lin, Y.C. Sun, L.J. Lin,