کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1502425 | 993420 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ X-ray diffraction study of Co/Pd multilayers grown on Ta substrate during hydrogen loading
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
For Co/Pd multilayers deposited on Ta the volumetric strain upon hydrogen loading is determined from the measured lattice parameter using Hooke’s law. We found that the hydrogen completely diffuses out of the multilayer after exposing the sample to an argon atmosphere or to air, whereas it remains dissolved in the substrate. This causes a biaxial in-plane stress in the multilayer. We observed a change in the hydrogen solubility in the multilayer for varying in-plane stress.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 60, Issue 9, May 2009, Pages 756–759
Journal: Scripta Materialia - Volume 60, Issue 9, May 2009, Pages 756–759
نویسندگان
Senthilnathan Mohanan, Maxim Smetanin, Jörg Weissmüller, Ulrich Herr,