کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1502425 993420 2009 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ X-ray diffraction study of Co/Pd multilayers grown on Ta substrate during hydrogen loading
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
In situ X-ray diffraction study of Co/Pd multilayers grown on Ta substrate during hydrogen loading
چکیده انگلیسی

For Co/Pd multilayers deposited on Ta the volumetric strain upon hydrogen loading is determined from the measured lattice parameter using Hooke’s law. We found that the hydrogen completely diffuses out of the multilayer after exposing the sample to an argon atmosphere or to air, whereas it remains dissolved in the substrate. This causes a biaxial in-plane stress in the multilayer. We observed a change in the hydrogen solubility in the multilayer for varying in-plane stress.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 60, Issue 9, May 2009, Pages 756–759
نویسندگان
, , , ,