کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1503693 | 993502 | 2006 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
3D microstructural characterization of nickel superalloys via serial-sectioning using a dual beam FIB-SEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Dual beam focused ion beam-scanning electron microscopes are well suited for characterizing micron and sub-micron size microstructural features in three dimensions via serial-sectioning procedures. Importantly, these commercially-available instruments can be used to collect morphological, crystallographic, and chemical information throughout a serial-sectioning experiment. Selected examples are shown to demonstrate these capabilities.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 55, Issue 1, July 2006, Pages 23–28
Journal: Scripta Materialia - Volume 55, Issue 1, July 2006, Pages 23–28
نویسندگان
Michael D. Uchic, Michael A. Groeber, Dennis M. Dimiduk, J.P. Simmons,