کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1516347 1511566 2011 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Influence of the active layer thickness on the electrical properties of ZnO thin film transistors fabricated by radio frequency magnetron sputtering
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Influence of the active layer thickness on the electrical properties of ZnO thin film transistors fabricated by radio frequency magnetron sputtering
چکیده انگلیسی
► ZnO-TFT with the active layer thickness of 20-100 nm annealed at 950 °C.► 20 nm ZnO film did not effectively form the channel layer.► 40 nm ZnO film exhibited the best performance.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Physics and Chemistry of Solids - Volume 72, Issue 12, December 2011, Pages 1393-1396
نویسندگان
, , , , , , ,