کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1517167 | 1511581 | 2010 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural and optical properties of In35Sb45Se20−xTex phase-change thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Physical properties of In35Sb45Se20−xTex thin films with different compositions (x=2.5, 5, 7.5, 10, 12.5 and 15 at %) prepared by electron beam evaporation method are studied. X-ray diffraction results indicate that the as-evaporated films depend on the Te content and the crystallized compounds consist mainly of Sb2Se3 with small amount of Sb2SeTe2. Transmittance and reflectance of the films are found to be thickness dependent. Optical-absorption data indicate that the absorption mechanism is direct transition. Optical band gap values decrease with increase in Te content as well as with increase in film thickness.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Physics and Chemistry of Solids - Volume 71, Issue 9, September 2010, Pages 1381–1387
Journal: Journal of Physics and Chemistry of Solids - Volume 71, Issue 9, September 2010, Pages 1381–1387
نویسندگان
A.K. Diab, M.M. Wakkad, E.Kh. Shokr, W.S. Mohamed,