کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1523007 | 1511826 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparison studies of InGaN epitaxy with trimethylgallium and triethylgallium for photosensors application
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
InGaN materials grown by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) using trimethylgallium (TMG) and triethylgallium (TEG) as alkyl source were compared. Ga-doped ZnO (GZO) films using radio frequency (RF) magnetron sputtering to feature Schottky contacts onto InGaN epitaxial layer with AlN or Mg-doped GaN in-situ capping layer were demonstrated. It is of great potential in application to high performance InGaN photosensors.
► InGaN materials grown by different alkyl source using metalorganic chemical vapor deposition.
► Ga-doped ZnO films deposited by radio frequency magnetron sputtering to feature Schottky contacts onto InGaN.
► In-situ capping technique improves performance of InGaN photosensors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 134, Issues 2–3, 15 June 2012, Pages 899–904
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 134, Issues 2–3, 15 June 2012, Pages 899–904
نویسندگان
Kai-Hsuan Lee, Ping-Chuan Chang, Shoou-Jinn Chang, Yan-Kuin Su, San-Lein Wu, Manfred Pilkuhn,