کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1523020 | 1511826 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of metallic electrical contacts to SnO2 thin films lightly doped with Eu3+ ions, and photo-induced resistivity
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Electrodes on sol-gel SnO2:Eu, with different metals, deposited by evaporation. ⺠Evaluation of Schottky barrier for SnO2 with Sn, In and Al. âºÂ Possible oxidation of Al contact caused by thermal annealing. ⺠Blue and ultraviolet excitation on Sn/SnO2:0.05%Eu junction.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 134, Issues 2â3, 15 June 2012, Pages 994-1000
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 134, Issues 2â3, 15 June 2012, Pages 994-1000
نویسندگان
Vitor D.L. da Silva, Aloisio de Andrade, Luis V.A. Scalvi, Emerson A. Floriano, Jorge L.B. Jr., Leandro P. Ravaro, Julio C. Santos,