کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1523270 | 1511827 | 2012 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A comparison of Ar ion implantation and swift heavy Xe ion irradiation effects on immiscible AlN/TiN multilayered nanostructures
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠200 keV Ar and 166 MeV Xe irradiation effects on AlN/TiN multilayers were compared. ⺠The multilayered structures remained unmixed due to their immiscibility. ⺠Contributions of atomic collisions and electronic excitations were distinguished. ⺠Temperature distribution was evaluated and compared to the induced effects. ⺠The results can be interesting towards developing radiation tolerant materials.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 133, Issues 2â3, 16 April 2012, Pages 884-892
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 133, Issues 2â3, 16 April 2012, Pages 884-892
نویسندگان
Momir MilosavljeviÄ, Ana Grce, Davor PeruÅ¡ko, Marko StojanoviÄ, Janez KovaÄ, Goran DražiÄ, Alexander Yu. Didyk, Vladimir A. Skuratov,