کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1523664 1511828 2012 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhanced performance and reliability of NILC-TFTs using FSG buffer layer
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Enhanced performance and reliability of NILC-TFTs using FSG buffer layer
چکیده انگلیسی
► Fluorine ion was implanted into the buffer oxide to form fluorine-silicate-glass (FSG). ► Ni-induced lateral crystallization (NILC) was used to fabricate poly-Si TFT on either oxide (NILC-TFT) or FSG (FSG-TFT). ► The performance of FSG-TFT was better than that of NILC-TFT.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 132, Issues 2–3, 15 February 2012, Pages 637-640
نویسندگان
, , ,