| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 1523664 | 1511828 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhanced performance and reliability of NILC-TFTs using FSG buffer layer
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Fluorine ion was implanted into the buffer oxide to form fluorine-silicate-glass (FSG). ⺠Ni-induced lateral crystallization (NILC) was used to fabricate poly-Si TFT on either oxide (NILC-TFT) or FSG (FSG-TFT). ⺠The performance of FSG-TFT was better than that of NILC-TFT.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 132, Issues 2â3, 15 February 2012, Pages 637-640
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 132, Issues 2â3, 15 February 2012, Pages 637-640
نویسندگان
Chien-Chih Chen, YewChung Sermon Wu, Chih-Pang Chang,