کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1524126 1511824 2012 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroscopic evidence of NOx formation and band-gap narrowing in N-doped TiO2 films grown by pulsed magnetron sputtering
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Spectroscopic evidence of NOx formation and band-gap narrowing in N-doped TiO2 films grown by pulsed magnetron sputtering
چکیده انگلیسی
► Highly-doped TiO2:N films have been grown by reactive pulsed magnetron sputtering. ► The electronic structure has been assessed by XANES and high-resolution XPS. ► N incorporation favors the formation of anatase structures and narrows the band-gap. ► The spectroscopic data evidence the role of N interstitials in the form of NOx complexes.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 136, Issues 2–3, 15 October 2012, Pages 729-736
نویسندگان
, , , , , ,