کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1530642 | 1511996 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Vacancies and E-centers in silicon as multi-symmetry defects
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this paper, using first-principles calculations, we demonstrate that vacancies and E-centers (AsV, SbV) in silicon can co-exist in several metastable configurations with notably different relaxation patterns, which have very similar formation energies. Thus these vacancy-type defects can be considered as multi-symmetry defects in the sense that, at elevated temperatures, the probabilities to find vacancies in different stable configurations are comparable. From an experimental point of view, the co-existence of various symmetries can complicate the identification of the defect.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volumes 159–160, 15 March 2009, Pages 107–111
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volumes 159–160, 15 March 2009, Pages 107–111
نویسندگان
M.G. Ganchenkova, L.E. Oikkonen, V.A. Borodin, S. Nicolaysen, R.M. Nieminen,