کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1531232 | 1512002 | 2008 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging thin and ultrathin organic films by scanning white light interferometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We present the results of a feasibility study of the capabilities of scanning white light interferometry (SWLI) to map large (macroscopic) areas of thin and ultrathin organic films deposited on mica and borosilicate glass substrates. We have shown that SWLI can provide useful characteristics (such as thickness and homogeneity) of polymer monolayers and surface patterns prepared by microcontact printing. We present the principle of operation of the technique and discuss the conditions under which SWLI can give reliable results, its strengths and its limitations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 152, Issues 1–3, 25 August 2008, Pages 125–131
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 152, Issues 1–3, 25 August 2008, Pages 125–131
نویسندگان
Frédéric Madani-Grasset, Nhan T. Pham, Emmanouil Glynos, Vasileios Koutsos,