کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1531562 | 1512013 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In and Al composition in nano-Cu(InAl)Se2 thin films from XRD and transmittance spectra
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Cu(InAl)Se2 (CIAS) thin films of different thicknesses were prepared by chemical bath deposition technique (CBD) onto well-cleaned substrates at different temperatures from two different chemical baths. The thickness of the deposited films has been determined by gravimetric technique. The composition of indium and aluminum constituents in the prepared CIAS films has been found from XRD and transmittance spectra. The results were confirmed with energy dispersive X-ray analysis (EDAX) and are presented in detail in this paper.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 140, Issues 1–2, 25 May 2007, Pages 59–63
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 140, Issues 1–2, 25 May 2007, Pages 59–63
نویسندگان
B. Kavitha, M. Dhanam,