کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1571815 | 1000656 | 2009 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Tutorial on x-ray microLaue diffraction
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
MicroLaue diffraction combines the oldest x-ray diffraction method–Laue diffraction–with the most modern x-ray sources, optics and detectors. The combination can resolve complex materials into single-crystal-like submicron volumes. This unique ability to nondestructively map crystal structure at and below a sample surface, with high spatial and strain resolution can address long-standing fundamental issues in materials science. For example, the three-dimensional evolution of mesoscale structure and the self organization of defects can be observed nondestructively to understand the origins of inhomogeneous grain growth, deformation and fracture.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Characterization - Volume 60, Issue 11, November 2009, Pages 1191–1201
Journal: Materials Characterization - Volume 60, Issue 11, November 2009, Pages 1191–1201
نویسندگان
Gene E. Ice, Judy W.L. Pang,