کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1571849 | 1000657 | 2009 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atom probe tomography
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Atom probe tomography Atom probe tomography](/preview/png/1571849.png)
چکیده انگلیسی
This introductory tutorial describes the technique of atom probe tomography for materials characterization at the atomic level. The evolution of the technique from the initial atom probe field ion microscope to today's state-of-the-art three dimensional atom probe is outlined. An introduction is presented on the basic physics behind the technique, the operation of the instrument, and the reconstruction of the three-dimensional data. The common methods for analyzing the three-dimensional atom probe data, including atom maps, isoconcentration surfaces, proximity histograms, maximum separation methods, and concentration frequency distributions, are described.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Characterization - Volume 60, Issue 6, June 2009, Pages 461–469
Journal: Materials Characterization - Volume 60, Issue 6, June 2009, Pages 461–469
نویسندگان
M.K. Miller, R.G. Forbes,