کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1572261 | 1000675 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A cross-sectional TEM sample preparation method for films deposited on metallic substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: A cross-sectional TEM sample preparation method for films deposited on metallic substrates A cross-sectional TEM sample preparation method for films deposited on metallic substrates](/preview/png/1572261.png)
چکیده انگلیسی
This paper concerns the method on how to prepare TEM samples for the films deposited on metallic substrates. This method is described in a step-by-step way and applied to the VN/SiO2 superlattice to testify to its feasibility in the second part.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Characterization - Volume 58, Issue 7, July 2007, Pages 666–669
Journal: Materials Characterization - Volume 58, Issue 7, July 2007, Pages 666–669
نویسندگان
Yan Liu, Ruobin Wang, Xinqiu Guo, Jiawei Dai,