کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1579465 | 1514831 | 2010 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Semi-automated characterization of the γⲠphase in Ni-based superalloys via high-resolution backscatter imaging
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The size distribution and volume fraction of the γⲠphase in Ni-based superalloys plays a critical role in microstructural evolution and mechanical properties. Automated analysis of images is often desired for rapid quantitative characterization of these microstructures. Backscatter electron imaging of specimens in which the γⲠphase has been selectively etched yields images that can be more readily segmented with image processing algorithms than other imaging techniques. Utilization of this combination of sample preparation and imaging technique allows for the rapid collection of microstructural data.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volume 527, Issues 10â11, 25 April 2010, Pages 2684-2692
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volume 527, Issues 10â11, 25 April 2010, Pages 2684-2692
نویسندگان
E.J. Payton, P.J. Phillips, M.J. Mills,