کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1582249 | 1514874 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative atomic force microscopy analysis of slip traces in Ni3Al yield stress anomaly
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
It is well known that Ni3Al intermetallic compounds of the L12 ordered structure exhibit positive temperature dependence of yield stress over a finite temperature range. In this work, we examined the slip markings produced by plastic deformation at the free surface of Ni3(Al,Hf) specimens deformed in situ under an atomic force microscope at room temperature. The results demonstrate that a high exhaustion in the mobile dislocation density does take place in the yield-stress anomaly of this alloy.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volumes 483–484, 15 June 2008, Pages 87–90
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volumes 483–484, 15 June 2008, Pages 87–90
نویسندگان
Joël Bonneville, Christophe Coupeau,