کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1594646 | 1515669 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structure and magnetic properties of FexGe1−x films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A series of FexGe1−x (x=0x=0, 0.0097, 0.019, 0.038, 0.056, 0.073, 0.089, 0.105) thin films were prepared by magnetron sputtering. Physical property measurement system (PPMS) measurements showed that such films have ferromagnetic properties at room temperature and that the ferromagnetism arises from the interaction of the Fe spins, mediated by hole carriers. From the studies of X-ray diffraction (XRD) we find no secondary phases in the films. X-ray photoelectron spectrum (XPS) and X-ray absorption fine structure (XAFS) indicate that the Fe ions are in the 0 and the +2 state.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Communications - Volume 149, Issues 43–44, November 2009, Pages 1924–1927
Journal: Solid State Communications - Volume 149, Issues 43–44, November 2009, Pages 1924–1927
نویسندگان
Weixia Gao, Denglu Hou, Yuchan Hu, Shiqiang Wei,