کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1594787 | 1515698 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nanolithography and manipulation of graphene using an atomic force microscope
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We use an atomic force microscope (AFM) to manipulate graphene films on a nanoscopic length scale. By means of local anodic oxidation with an AFM we are able to structure isolating trenches into single-layer and few-layer graphene flakes, opening the possibility of tabletop graphene based device fabrication. Trench sizes of less than 30 nm in width are attainable with this technique. Besides oxidation we also show the influence of mechanical peeling and scratching with an AFM of few layer graphene sheets placed on different substrates.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Communications - Volume 147, Issues 9–10, September 2008, Pages 366–369
Journal: Solid State Communications - Volume 147, Issues 9–10, September 2008, Pages 366–369
نویسندگان
A.J.M. Giesbers, U. Zeitler, S. Neubeck, F. Freitag, K.S. Novoselov, J.C. Maan,