کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1595057 | 1515676 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigation of the crossover properties for the interaction parameters of a ferroelectric thin film
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The crossover feature, from the ferroelectric-dominant phase diagram (FPD) to the paraelectric-dominant phase diagram (PPD), for the interaction parameters of a ferroelectric thin film described by the transverse Ising model have been calculated in detail by the use of the mean-field approximation. The crossover values of the exchange interactions and the transverse fields for a thin film with certain layers are displayed as a curved surface in the three-dimensional parameter space. The numerical results show that for thin films with different numbers of layers there exists a common intersection line for the curved surfaces of the crossover values. Meanwhile the layer-independent equation for the intersection line is obtained for the first time.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Communications - Volume 149, Issues 29â30, August 2009, Pages 1176-1179
Journal: Solid State Communications - Volume 149, Issues 29â30, August 2009, Pages 1176-1179
نویسندگان
Z.X. Lu, B.H. Teng, X.H. Lu, X.J. Zhang, C.D. Wang,