کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1595785 | 1515711 | 2008 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Synchrotron X-ray diffraction study of ZnTe at high pressure
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Synchrotron X-ray diffraction study of ZnTe at high pressure Synchrotron X-ray diffraction study of ZnTe at high pressure](/preview/png/1595785.png)
چکیده انگلیسی
ZnTe has been studied at high pressure to 76 GPa and at room temperature in a diamond-anvil cell using angle-dispersive X-ray diffraction technique with synchrotron radiation and an imaging plate detector. The equation-of-state parameters of the two high-pressure phases of ZnTe were for the first time derived to be B0=91.3(7.0)GPa and B0′=0.8(1.0) for the cinnabar-type phase and B0=134(5)GPa and B0′=2.4(1) for the Cmcm-type phase, respectively.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Communications - Volume 145, Issues 7–8, February 2008, Pages 374–378
Journal: Solid State Communications - Volume 145, Issues 7–8, February 2008, Pages 374–378
نویسندگان
A. Onodera, A. Ohtani, S. Tsuduki, O. Shimomura,