کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1596399 | 1002822 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Infrared reflectivity of Cox(SiO2)1âx (xâ¼0.85, 0.55, 0.38) granular films on SiO2 glass substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Infrared reflectivity of Cox(SiO2)1âx (xâ¼0.85, 0.55, 0.38) granular films on SiO2 glass substrates Infrared reflectivity of Cox(SiO2)1âx (xâ¼0.85, 0.55, 0.38) granular films on SiO2 glass substrates](/preview/png/1596399.png)
چکیده انگلیسی
We report the infrared specular reflectivity of Cox(SiO2)1âx (xâ¼0.85, 0.55, 0.38) films on SiO2 glass spanning from a metal-like to insulating behavior. While films for xâ¼0.85 show carrier metallic shielding and hopping conductivity, for xâ¼0.65 and lower concentrations, the nanoparticles' number and size promote a localization edge near the highest longitudinal optical frequency. Such an edge is associated with a reflectivity minimum and a higher frequency band connoting strong electron-phonon interactions, carrier phonon assisted hopping, and polaron formation. Optical conductivity fits with current polaron models provide grounds toward a microscopic understanding of transport properties in these as-prepared granular films.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Communications - Volume 141, Issue 10, March 2007, Pages 551-554
Journal: Solid State Communications - Volume 141, Issue 10, March 2007, Pages 551-554
نویسندگان
Néstor E. Massa, Juliano C. Denardin, Leandro M. Socolovsky, Marcelo Knobel, Fernando Pablo de la Cruz, Xixiang Zhang,