کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1600522 | 1515889 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Powder X-ray diffraction pattern of NbSi1.9 containing planar stacking faults
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فلزات و آلیاژها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The X-ray powder diffraction pattern of NbSi1.9 prepared by heating Nb and Si powders with Na at 900 K for 48 h in Ar was analyzed by the Rietveld method. The broadening peaks of X-ray reflections suggested stacking faults of the C40 structure. The XRD pattern was simulated with a stacking fault model using DIFFaX.
Figure optionsDownload as PowerPoint slide
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Intermetallics - Volume 22, March 2012, Pages 189–192
Journal: Intermetallics - Volume 22, March 2012, Pages 189–192
نویسندگان
Hisanori Yamane, Hiroto Sato, Takahiro Yamada,