کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1680345 | 1518671 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Resolution considerations in MeV ion microscopy and lithography
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
There a disparity between the way the resolution is specified in microscopy and lithography using light compared to MeV ion microscopy and lithography. In this work we explore the implications of the way the resolution is defined with a view to answering the questions; how are the resolving powers in MeV ion microscopy and lithography relate to their optical counterparts? and how do different forms of point spread function affect the modulation transfer function and the sharpness of the edge profile?
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 348, 1 April 2015, Pages 53–57
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 348, 1 April 2015, Pages 53–57
نویسندگان
Rattanaporn Norarat, Harry J. Whitlow,