کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1680809 | 1518679 | 2014 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A design for a pinhole scanning helium microscope
ترجمه فارسی عنوان
طراحی یک میکروسکوپ هلیوم اسکن پین هول
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
پراکندگی اتم هلیوم، میکروسکوپ اتمی هلیوم، اسکن میکروسکوپ هلیوم، شام
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
چکیده انگلیسی
We present a simplified design for a scanning helium microscope (SHeM) which utilises almost entirely off the shelf components. The SHeM produces images by detecting scattered neutral helium atoms from a surface, forming an entirely surface sensitive and non-destructive imaging technique. This particular prototype instrument avoids the complexities of existing neutral atom optics by replacing them with an aperture in the form of an ion beam milled pinhole, resulting in a resolution of around 5 microns. Using the images so far produced, an initial investigation of topological contrast has been performed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 340, 1 December 2014, Pages 76–80
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 340, 1 December 2014, Pages 76–80
نویسندگان
M. Barr, A. Fahy, A. Jardine, J. Ellis, D. Ward, D.A. MacLaren, W. Allison, P.C. Dastoor,