کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1681544 | 1518650 | 2016 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Computer simulation of ion beam analysis of laterally inhomogeneous materials
ترجمه فارسی عنوان
شبیه سازی کامپیوتری از تجزیه و تحلیل پرتوهای یونی از مواد جانبی غیر همجنس
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
چکیده انگلیسی
The program STRUCTNRA for the simulation of ion beam analysis charged particle spectra from arbitrary two-dimensional distributions of materials is described. The code is validated by comparison to experimental backscattering data from a silicon grating on tantalum at different orientations and incident angles. Simulated spectra for several types of rough thin layers and a chessboard-like arrangement of materials as example for a multi-phase agglomerate material are presented. Ambiguities between back-scattering spectra from two-dimensional and one-dimensional sample structures are discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 371, 15 March 2016, Pages 90-96
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 371, 15 March 2016, Pages 90-96
نویسندگان
M. Mayer,