کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1681655 | 1518748 | 2010 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Monte Carlo simulation of X-ray spectra from low energy electrons using optical data
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
An approach using optical data to simulate both the bremsstrahlung continuum and characteristic K and L X-ray lines generated by low energy electrons (cfr. electron microscopy) in solids is discussed in this paper. The necessary analytical expressions together with the data to calculate the relevant cross sections for elastic and inelastic interactions at these energies along with variance reduction techniques are given. The results of the Monte Carlo simulation are compared to experimental data measured with a JEOL 6300 electron microscope.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 268, Issues 17â18, September 2010, Pages 2794-2800
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 268, Issues 17â18, September 2010, Pages 2794-2800
نویسندگان
D. Roet, P. Van Espen,