کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1684506 | 1518721 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comprehensive method to analyze thick insulating samples using PIXE technique
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠A new comprehensive method to analyze directly thick insulating samples by PIXE technique is presented. ⺠The method is based on the use of an electron flood gun and a beam profile monitor. ⺠Both accuracy and precision of the experimental procedure were successfully verified using reference material.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 296, 1 February 2013, Pages 50-53
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 296, 1 February 2013, Pages 50-53
نویسندگان
I.M. Ismail, M.S. Rihawy,