کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1684506 1518721 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comprehensive method to analyze thick insulating samples using PIXE technique
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سطوح، پوشش‌ها و فیلم‌ها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Comprehensive method to analyze thick insulating samples using PIXE technique
چکیده انگلیسی
► A new comprehensive method to analyze directly thick insulating samples by PIXE technique is presented. ► The method is based on the use of an electron flood gun and a beam profile monitor. ► Both accuracy and precision of the experimental procedure were successfully verified using reference material.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 296, 1 February 2013, Pages 50-53
نویسندگان
, ,