کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1684507 | 1518721 | 2013 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The new Heavy Ion ERDA set up at iThemba LABS Gauteng: Multilayer thin film depth profiling using direct calculation and Monte Carlo simulation codes
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠A new Heavy Ion ERDA set up has been constructed at iThemba LABS Gauteng. ⺠A bi-layer Al2O3/Ti film stack was prepared by electron beam evaporation, annealed and analysed using the new set up. ⺠Direct calculation and Monte Carlo simulation codes were used to extract depth profiles. ⺠Interfacial reactions at 800 °C suggest a case of the Kirkendall effect.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 296, 1 February 2013, Pages 54-60
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 296, 1 February 2013, Pages 54-60
نویسندگان
M. Msimanga, D. Wamwangi, C.M. Comrie, C.A. Pineda-Vargas, M. Nkosi, T. Hlatshwayo,