کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1690705 1011273 2012 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of initial stages of thin film growth by means of atomistic computer simulation and image analysis
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سطوح، پوشش‌ها و فیلم‌ها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Study of initial stages of thin film growth by means of atomistic computer simulation and image analysis
چکیده انگلیسی
► The atomistic model of film growth can produce realistic results. ► The molecular-dynamics part of the atomistic model increases its applicability. ► The image analysis is a source of valuable data in thin film physics. ► The best suited methods are the Voronoi tessellation and the Quadrat Counts.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Vacuum - Volume 86, Issue 9, 14 March 2012, Pages 1223-1227
نویسندگان
, , ,