کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1783933 1524111 2016 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigation on low thermal emittance of Al films deposited by magnetron sputtering
ترجمه فارسی عنوان
بررسی الیه حرارتی کم آلومینیوم های رسوب شده توسط اسپکترومغناطیسی مگنترون
کلمات کلیدی
آل فیلم، انتشار گرما، ضخامت فیلم، ثابت نوری
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
چکیده انگلیسی


• Optimal thickness 78 nm of Al film for lowest emittance is obtained.
• Emittance of optimal Al film keeps close to 0.02 from 25 °C to 400 °C.
• Optical constants of Al film are deduced by fitting R and T spectra.

A series of Al films with different thicknesses were deposited on polished stainless steel by direct current (DC) magnetron sputtering as a metal IR-reflector layer in solar selective absorbing coating (SSAC). The effects of the film thickness and the temperature on the thermal emittance of the Al films are studied. An optimal thickness 78 nm of the Al film for the lowest total thermal emittance is obtained. The thermal emittance of the optimal Al film keeps close to 0.02 from 25 °C to 400 °C, which are low enough to satisfy the optical requirements in SSAC. The optical constants of the Al film are deduced by fitting the reflectance and transmission spectra using SCOUT software.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 75, March 2016, Pages 133–138
نویسندگان
, , , , , , , , , , ,