کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1788997 | 1023487 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of interface chemical properties on nonvolatile memory characteristics for small-molecule memory cells embedded with Ni nano-crystals surrounded by NiO
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We investigated the effect of the chemical properties of the interface on nonvolatile memory characteristics for small-molecule memory cells embedded with Ni nano-crystals surrounded by a NiO tunneling barrier. We used ultra-high voltage TEM, Auger, and XPS to characterize the physical and chemical properties of the interface. It was found that the occurrence of chemical reactions between the small-molecule layers and the surface of the NiO tunneling barrier surrounding the Ni nano-crystals (e.g., NiCO3) conclusively determine nonvolatile memory characteristics such as memory margin (Ion/Ioff ratio), retention time, and endurance cycles of writing and erasing.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Current Applied Physics - Volume 10, Issue 1, Supplement, January 2010, Pages e32–e36
Journal: Current Applied Physics - Volume 10, Issue 1, Supplement, January 2010, Pages e32–e36
نویسندگان
Sung-Ho Seo, Woo-Sik Nam, Jae-Suk Kim, Sang-Yi Lee, Tae-Hun Shim, Jea-Gun Park,