کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1804661 | 1024652 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Magnetic linear dichroism studies of in situ grown NiO thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We report thickness dependence of magnetic linear dichroism (MLD) of in situ grown NiO(0 0 1) films on Ag(0 0 1) substrate at the Ni L2 absorption edge. Antiferromagnetic domains at the surface of NiO(0 0 1) films are found to be preferentially aligned in-plane. For films thinner than a critical thickness tctc (20–40ML), we observe a softening of the in-plane magnetic domain alignments with increasing film thickness, arising from the strain-relaxation effects. Films thicker than tctc exhibits a residual in-plane anisotropy, possibly related to the finite-thickness effects.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Magnetism and Magnetic Materials - Volume 310, Issue 1, March 2007, Pages 8–12
Journal: Journal of Magnetism and Magnetic Materials - Volume 310, Issue 1, March 2007, Pages 8–12
نویسندگان
S.R. Krishnakumar, M. Liberati, C. Grazioli, M. Veronese, S. Turchini, P. Luches, S. Valeri, C. Carbone,