کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1823790 | 1526450 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Geant4 simulation of a filtered X-ray source for radiation damage studies
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Geant4 low energy extensions have been used to simulate the X-ray spectra of industrial X-ray tubes with filters for removing the uncertain low energy part of the spectrum in a controlled way. The results are compared with precisely measured X-ray spectra using a silicon drift detector. Furthermore, this paper shows how the different dose rates in silicon and silicon dioxide layers of an electronic device can be deduced from the simulations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 675, 21 May 2012, Pages 118–122
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 675, 21 May 2012, Pages 118–122
نویسندگان
M. Guthoff, O. Brovchenko, W. de Boer, A. Dierlamm, T. Müller, A. Ritter, M. Schmanau, H.-J. Simonis,