کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1825012 | 1027349 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Development of the program EOD for design in electron and ion microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The paper surveys new features of the EOD program, a complete workplace for the design of electron and ion microscopes. The extensions of the program for space charge computations, interaction with gases in the specimen chamber and misalignments are handled as plug-ins, keeping the program as a single unit. The current status of the tolerancing plug-in is described in more detail.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 645, Issue 1, 21 July 2011, Pages 278–282
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 645, Issue 1, 21 July 2011, Pages 278–282
نویسندگان
J. Zlámal, B. Lencová,