کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1825708 | 1027368 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Dynamic X-ray direct conversion detector using a CdTe polycrystalline layer coupled to a CMOS readout chip
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Dynamic X-ray direct conversion detector using a CdTe polycrystalline layer coupled to a CMOS readout chip Dynamic X-ray direct conversion detector using a CdTe polycrystalline layer coupled to a CMOS readout chip](/preview/png/1825708.png)
چکیده انگلیسی
A direct detection X-ray imager is presented. It uses polycrystalline cadmium telluride (CdTe) grown by close space sublimation technique for the X-ray photoconductor. A 15Â mmÃ15Â mm CdTe layer is connected to a 200Ã200 pixel readout CMOS by indium bumping. X-ray performance at 16Â frames/s rate is measured. In particular a readout noise of 0.5 X-ray, an MTF of 50% at 4Â lp/mm and a DQE of 20% at 4Â lp/mm are obtained.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 633, Supplement 1, May 2011, Pages S55-S58
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 633, Supplement 1, May 2011, Pages S55-S58
نویسندگان
Marc Arques, Sébastien Renet, Andréa Brambilla, Guy Feuillet, Adrien Gasse, Nicolas Billon-Pierron, Muriel Jolliot, Lydie Mathieu, Pierre Rohr,