کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1826645 | 1526472 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Extended knife-edge method for characterizing sub-10-nm X-ray beams
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We describe a method for characterizing sub-10-nm X-ray beams using knife-edge scanning with dark-field geometry. Beam profile measurement by the conventional dark-field method is simulated numerically, and the signal intensity is found to depend strongly on the incident angle of the beam components. A numerical procedure to correct the dependence and to determine the actual beam profile is presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 616, Issues 2–3, 1 May 2010, Pages 246–250
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 616, Issues 2–3, 1 May 2010, Pages 246–250
نویسندگان
Soichiro Handa, Takashi Kimura, Hidekazu Mimura, Hirokatsu Yumoto, Satoshi Matsuyama, Yasuhisa Sano, Kenji Tamasaku, Yoshinori Nishino, Makina Yabashi, Tetsuya Ishikawa, Kazuto Yamauchi,