کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1827783 | 1526481 | 2009 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Synchrotron-based photoelectron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The paper is a brief overview of the operation principles and the potentials of the scanning photoelectron microscopes (SPEM) and X-ray photoemission electron microscopes (XPEEM) operating at synchrotron facilities. Selected results will illustrate the impact of high spatial resolution for micro-characterization of the surface composition and electronic structure, a key issue for analysis of technologically relevant materials and for fundamental understanding of many unexplored surface phenomena.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 601, Issues 1–2, 21 March 2009, Pages 195–202
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 601, Issues 1–2, 21 March 2009, Pages 195–202
نویسندگان
Alexei Barinov, Pavel Dudin, Luca Gregoratti, Andrea Locatelli, Tevfik Onur Menteş, Miquel Ángel Niño, Maya Kiskinova,