کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1830384 | 1027478 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Systematic effects in some semiconductor detector tests
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Systematic effects in some semiconductor detector tests Systematic effects in some semiconductor detector tests](/preview/png/1830384.png)
چکیده انگلیسی
This paper deals with commonly used semiconductor detector testing methods, i.e. tests with high energy beams, lasers or radioactive beta sources. The systematic effects of the tests are analysed and applicability limits are determined using measurements and simulations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 583, Issue 1, 11 December 2007, Pages 37-41
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 583, Issue 1, 11 December 2007, Pages 37-41
نویسندگان
Z. Doležal, Z. Drásal, P. KodyÅ¡, P. KvasniÄka, P. ÅeznÃÄek, D. Scheirich,