Influence of carrier lifetime distribution on the current filament in high voltage diode

رشته های کنونی ناشی از پویش قوی دینامیکی در هنگام معکوس بهبود دیود ولتاژ بالا در شرایط فوق العاده بیش از حد، عامل مهم شکست دستگاه است. تأثیر توزیع طول عمر حامل بر روی رشته جریان در هنگام معکوس بازیابی دیود ولتاژ بالا با مقایسه توزیع عمر یکنواخت حامل و توزیع های طول عمر کم محلی، و روند تغییر و مکانیسم مهار رشته های کنونی در دیود مورد بحث قرار گرفت. شبیه سازی الکتروترمال نشان می دهد که چگونه توزیع های طول عمر کم محلی محلی می تواند تکامل رشته های کنونی سمت آند و ظاهر رشته های جریان چند طرفه کاتد را تحریک کند. این نتیجه گیری می شود که پلاسمای پایین در حالت نیمه آند به دلیل ضروری برای مهار رشته های فعلی است.