کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971569 | 1450524 | 2017 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Improved and accurate physics-of-failure (PoF) methodology for qualification and lifetime assessment of electronic systems
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Improved and accurate physics-of-failure (PoF) methodology for qualification and lifetime assessment of electronic systems Improved and accurate physics-of-failure (PoF) methodology for qualification and lifetime assessment of electronic systems](/preview/png/4971569.png)
چکیده انگلیسی
In this paper, we propose a methodology that combines the two approaches to get an improved reliability estimation and allows for a gradual improvement from a prediction handbook based approach to a PoF based reliability assessment. This methodology has been successfully validated on an industrial case.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 76â77, September 2017, Pages 42-46
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 76â77, September 2017, Pages 42-46
نویسندگان
A.B. Temsamani, S. Kauffmann, Y. Descas, B. Vandevelde, F. Zanon, G. Willems,